近年來，國內(nèi)外半導(dǎo)體照明飛速發(fā)展，LED因其特殊的發(fā)光機(jī)制和性能，其檢測方法和評價標(biāo)準(zhǔn)成為了世界LED產(chǎn)業(yè)所面臨的共同挑戰(zhàn)，世界各主要發(fā)達(dá)國家均把LED標(biāo)準(zhǔn)和檢測技術(shù)的開發(fā)放在了極為重視的地位。其中，美國是LED產(chǎn)業(yè)最發(fā)達(dá)，同時也是最重視LED檢測和標(biāo)準(zhǔn)化的國家之一。2008年，北美照明學(xué)會率先推出LM-79-2008《Approved Method: Electrical and Photometric Measurements of Solid-State Lighting Products (固態(tài)照明產(chǎn)品批準(zhǔn)的電氣和光度測量方法)》，該標(biāo)準(zhǔn)也被用作美國能源之星(Energy Star)認(rèn)證和美國商用LED產(chǎn)品有效評估和報告(CALiPER)項目的主要參考標(biāo)準(zhǔn)之一。
我國也十分重視半導(dǎo)體照明檢測和標(biāo)準(zhǔn)，科技部啟動了多項國家863高新技術(shù)項目，攻克LED檢測中的諸多技術(shù)難題。與此同時，國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會和相關(guān)機(jī)構(gòu)也適時展開了LED的標(biāo)準(zhǔn)化工作，業(yè)內(nèi)眾多專家學(xué)者都參與到了這些標(biāo)準(zhǔn)化工作中。2009年，我國首個關(guān)于LED產(chǎn)品光電性能檢測的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 24824-2009《普通照明用LED模塊測試方法》正式出臺，實際上，該標(biāo)準(zhǔn)早在2008年底就完成了報批稿。GB/T 24824-2009適用于各種功率大于1W的LED模塊，根據(jù)國際電工委員會(IEC)和我國標(biāo)準(zhǔn)的定義，LED模塊是半導(dǎo)體照明標(biāo)準(zhǔn)化解決方案的基礎(chǔ)，也包括封裝LED、LED燈和燈具等LED相關(guān)產(chǎn)品，因此相關(guān)LED產(chǎn)品的國家標(biāo)準(zhǔn)[1,2,3]在涉及相關(guān)的檢測內(nèi)容時都直接引用了GB/T 24824-2009標(biāo)準(zhǔn)。
LM-79-2008和GB/T 24824-2009都主要涉及LED產(chǎn)品的光電性能檢測，有很多共通的地方，具有很強(qiáng)的可比性。GB/T 24824-2009的主要起草人，曾參加了美國有關(guān)LM-79的討論，并根據(jù)國內(nèi)LED標(biāo)準(zhǔn)化工作的基礎(chǔ)，并對其草案提出了一些意見，從最后發(fā)布的版本來看，不少意見也被采納。2008年受美國NIST邀請，GB/T 24824-2009的主要起草人與美國LM-79主要技術(shù)負(fù)責(zé)人在NIST就LED標(biāo)準(zhǔn)化問題進(jìn)行了專題研討。本文將就GB/T 24824-2009和LM-79-2008這兩則標(biāo)準(zhǔn)的異同進(jìn)行比較，希望能給業(yè)界以參考。